美国麦奇克Microtrac纳米Zeta电位分析仪Zetatrac NPA152-31A 带探头 二手备件
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美国MICROTRAC NPA152-31A 带探头
包括：
1. NPA152-31A-0000-0000-10M 主机带电源
2. Probes and Cables 探头和连接线
照片实物拍摄，现货库存。二手 ，已校准过,物理状态外观完好。
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产品参数
粒度范围：0.8纳米－ 6.5微米
Zeta 电位测量：+/- 125mv
电泳迁移：+/- 0.4 μs/volt/cm
重复性：误差小于1%（标准颗粒）
测量原理：动态光背散射技术及米氏理论
专利技术：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纤光路设计，“非球形”颗粒校正选项，微电场设计技术
检测角度：180º
浓度范围：0.1ppm – 40wt%
分析时间：30-120 秒
光源：3mW 780nm 半导体光纤
样品体积：0.2 - 5ml
操作软件：兼容Windows 98, 2000, NT, XP, Vista等
国际标准：ISO 13321
环境温度：10ºC to 35ºC
相对湿度：小于90%
1. 最新动态光背散射技术，引入能谱概念，180°检测异相多普勒频率变化，稳定性好，重现性高，实为传统光子相关光谱方法的最佳替代品。
2. 专利膜电极设计，准确测量颗粒电泳速度
3. 先进的“Y型”光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，有效消除杂散光对检测器的负面影响。无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。
4. 专利的异相多谱勒频移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技术，较之传统的光子相关光谱分析方法，获得颗粒散射光信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性
5. 专利的可控参比方法（CRM，Controlled Reference Method），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度
﹡ 专利的异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术，比较传统的多谱勒频 移分析方法，获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性
﹡ 专利的可控参比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精细分析多谱勒频移产生的能 谱，确保分析的灵敏度
﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，避免了多重散射现象，保证高浓度溶液中纳米颗粒测 试的准确性
﹡ 先进的“Y型”光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，有效消除杂散光对检测器的负面影响
﹡ 专利的快速傅利叶变换算法(FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速处理检 测系统获得的光谱，缩短分析时间
﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素，内置常用分析物质光学数据库，提高颗粒粒度分布测试的准确性
﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准－纳米分析部分
﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准